降質(zhì)中子照相圖像清晰化及其質(zhì)量度量方法

摘要： 中子照相，也叫中子成像，是一種重要的射線無損檢測技術(shù)。中子成像數(shù)據(jù)質(zhì)量會受到準直比，樣品與探測器間距離，散射中子，中子通量，γ射線、快中子等高能光子或粒子對CCD/CMOS相機芯片的干擾等因素影響。主要表現(xiàn)為高斯噪聲、泊松噪聲、幾何不銳度（模糊）和白斑噪聲等圖像失真，尤其在中子通量受限的小型中子照相系統(tǒng)上愈發(fā)嚴重。為此，本文研究了中子照相圖像的多種降質(zhì)模型，構(gòu)建了基于真實中子照... （共7頁）