基于X射線熒光光譜分析水稻籽粒離子組

摘要： 【目的】水稻籽粒離子組通常采用電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)和電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICPOES)等技術進行分析，需要破壞性取樣且樣品前處理過程復雜。X射線熒光光譜法(XRF)一般無需進行樣品處理，可以快速無損地檢測樣品中的元素含量。本研究建立和優(yōu)化了利用XRF進行水稻籽粒離子組分析的方法?！痉椒ā客ㄟ^比較不同的試驗條件對水稻籽粒中不同元素XRF譜圖的影響，確定適合進... （共9頁）