用于應(yīng)力雙折射分布測量的多構(gòu)型掃描系統(tǒng)設(shè)計

摘要： 為了實現(xiàn)對不同構(gòu)型光學樣品進行應(yīng)力雙折射分布測量，在使用雙彈光調(diào)制方法的基礎(chǔ)上，設(shè)計了一種應(yīng)用于雙折射分布測量的多構(gòu)型掃描系統(tǒng)。該系統(tǒng)在保證測量的高分辨率的同時，通過保持激光器靜止，同時使樣品進行快速移動，提高了測量精度與廣度。在樣品測量方面，采用633 nm(1/4)玻片測試，測試相對誤差的范圍為0.79%～0.95%，波動范圍為0.12 nm，標準差為0.035 2；采用B... （共8頁）