基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測算法

摘要： 針對液晶屏顯示缺陷中微弱特征缺陷經多次卷積與背景紋理同化導致的檢測精度低的問題，提出了一種基于YOLOv5的液晶屏微弱特征缺陷檢測改進模型YOLO-Mura。首先，在主干網絡中引入Involution算子擴大感受野，增強在空間范圍內的微弱特征缺陷信息，并降低模型的浮點運算次數(shù)。其次，采用CARAFE上采樣算子優(yōu)化上采樣方式，加強對微弱特征缺陷的關注能力。然后，在頸部網絡，通過嵌... （共11頁）