基于改進(jìn)擴(kuò)散模型的磁瓦表面缺陷檢測(cè)方法

摘要： 針對(duì)電機(jī)磁瓦圖像對(duì)比度低，噪聲嚴(yán)重，存在亮條紋干擾，表面缺陷檢測(cè)困難的問(wèn)題，提出一種具有亮區(qū)抑制功能的各向異性擴(kuò)散模型。首先設(shè)計(jì)出亮區(qū)特征描述算子用來(lái)區(qū)分缺陷和干擾，再構(gòu)造出新的擴(kuò)散系數(shù)函數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，相比同類算法，該模型在背景平滑、邊緣檢測(cè)、圖像分割和缺陷識(shí)別上都有明顯優(yōu)勢(shì)，對(duì)氣孔和裂紋缺陷的檢測(cè)準(zhǔn)確率分別達(dá)到95%和89%。該研究有效增強(qiáng)磁瓦的低對(duì)比度圖像，提高缺陷檢測(cè)... （共7頁(yè)）