基于主成分分析和節(jié)點像差理論的公差降敏方法

摘要： 為了在設(shè)計階段預(yù)測光學(xué)系統(tǒng)加工裝配后的像質(zhì)并降低加工裝配難度，提升設(shè)計效率，文中提供了一個高效的公差靈敏度降低方法。首先使用Zernike多項式量化像差，基于線性代數(shù)理論和Monte Carlo分析尋找引入擾動后系統(tǒng)的像差變化規(guī)律，通過降維后的像差場以及特征值分布確定主要引入像差；對系統(tǒng)制造過程中可能出現(xiàn)的失對稱擾動和軸向擾動進行建模，基于節(jié)點像差理論描述擾動造成的引入像差，并... （共10頁）