處理器值預(yù)測(cè)技術(shù)研究
電子學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù): 28 2023-12-15
摘要: 當(dāng)今的處理器性能與存儲(chǔ)器帶寬和延遲嚴(yán)重失衡的問(wèn)題限制了計(jì)算系統(tǒng)的整體性能,而存儲(chǔ)器的性能對(duì)制程工藝不敏感,在后摩爾時(shí)代下很難再通過(guò)集成電路制造工藝的迭代獲得處理器性能收益,因此人們更多地想通過(guò)體系結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新獲得更高性能的計(jì)算系統(tǒng).處理器值預(yù)測(cè)技術(shù)是一種能在無(wú)需改變存儲(chǔ)系統(tǒng)情況下有效緩解存儲(chǔ)墻問(wèn)題的解決方案,其通過(guò)預(yù)測(cè)性地打破數(shù)據(jù)真相關(guān)進(jìn)而讓更多的指令可以在亂序處理器中并行執(zhí)行,... (共28頁(yè))