GE檢測(cè)儀表

　　GE檢測(cè)控制技術(shù)業(yè)務(wù)是一個(gè)行業(yè)領(lǐng)先創(chuàng)新者，業(yè)務(wù)涉及傳感測(cè)量， 無(wú)損檢測(cè)技術(shù)， 狀態(tài)監(jiān)測(cè)，與自動(dòng)化優(yōu)化控制領(lǐng)域， 幫客戶實(shí)現(xiàn)精確、高效和安全。旗下產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于航空航天、石油天然氣、電力、運(yùn)輸、醫(yī)療等行業(yè)。GE檢測(cè)控制技術(shù)主要包括：超聲檢測(cè)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、X射線產(chǎn)品、渦流檢測(cè)、硬度計(jì)、光學(xué)系統(tǒng)等。

　　1.超聲檢測(cè)

　　在超聲儀器、大型檢測(cè)設(shè)備、探頭以及需要內(nèi)部檢測(cè)的工業(yè)應(yīng)用軟件等方面，GE是世界領(lǐng)先的開(kāi)發(fā)者。GE無(wú)損檢測(cè)的超聲波檢測(cè)方案將能迎合您對(duì)于特殊應(yīng)用的關(guān)鍵需求，并能為您提供高效、優(yōu)質(zhì)以及安全的服務(wù)。GE的超聲波產(chǎn)品主要有：探傷儀、LOGIQ 9NDT、系統(tǒng)設(shè)備、CL5、檢測(cè)設(shè)備、USM 35X、腐蝕測(cè)厚儀、精密測(cè)厚儀、傳感器、探頭和藕合劑等。

　　2.工業(yè)內(nèi)窺鏡

　　GE的內(nèi)窺鏡設(shè)備品種齊全，涵蓋所有行業(yè)。GE充分利用現(xiàn)場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)及顧客反饋意見(jiàn)，打造當(dāng)今市場(chǎng)上最好的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡產(chǎn)品。產(chǎn)品可在生產(chǎn)加工設(shè)備不停機(jī)的情況下，檢測(cè)關(guān)鍵元件中的腐蝕或缺失部件，為飛機(jī)安全航行和和工廠安全運(yùn)行提供關(guān)鍵性信息，從而可為企業(yè)節(jié)約了大量成本。其研發(fā)的設(shè)備可獲得最高質(zhì)量的視頻數(shù)據(jù)，可迅速、安全和高效地進(jìn)行檢索，設(shè)備便于攜帶、結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，適應(yīng)各種惡劣的工業(yè)環(huán)境。GE的工業(yè)內(nèi)窺鏡產(chǎn)品主要有：視頻內(nèi)視鏡、XL Vu工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、搖攝-傾斜-變焦攝像頭、XL Go工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、硬式管道鏡、、Everest XLG3視頻探頭、可伸縮纖維管道鏡、Ca-變焦6.2 PTZ系統(tǒng)、機(jī)器人采集器、6.2mm ？視頻探頭、PTZ平行激光測(cè)量等。

　　3.X射線產(chǎn)品

　　X射線照像術(shù)能夠利用X射線和伽馬射線生成待測(cè)樣品的影像，顯示其在厚度變化、內(nèi)部和外部缺陷以及裝配細(xì)節(jié)等，是一種成熟而廣泛應(yīng)用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。 GE提供種類齊全的工業(yè)射線成像設(shè)備及技術(shù)。GE的X射線產(chǎn)品主要有：膠片及膠片處理設(shè)備、數(shù)字X光成像、工業(yè)X射線管、高壓發(fā)生器和控制、X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)、X-射線分析、GECCO 2505便攜式X射線探傷機(jī)、緊湊型X-Cube、Rhythm等。

　　4.渦流檢測(cè)

　　在裂紋檢測(cè)和材料分選等工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域中，GE檢測(cè)科技是渦流設(shè)備、測(cè)試儀器和傳感器開(kāi)發(fā)的領(lǐng)跑者。GE檢測(cè)科技的無(wú)損渦流檢測(cè)解決方案能滿足您特定的應(yīng)用要求，并具有高生產(chǎn)力、高質(zhì)量和高安全性。GE的渦流檢測(cè)產(chǎn)品主要有：Apollo、Pulsec、Phasec 3d、Phasec 3s、Phasec 3、Vector 2d、Vector 22、Autosigma 3000等。

　　5.硬度計(jì)

　　移動(dòng)式硬度測(cè)試正在興起。在成本壓力更重，質(zhì)量要求更高的今天，它不僅意味著更快的速度，而且最重要的是它為現(xiàn)有的固定式硬度測(cè)試提供了一個(gè)經(jīng)濟(jì)的補(bǔ)充方案。它的用途非常廣泛——可用于大型或小型元件，特別是常規(guī)難以觸及的地方。在這個(gè)領(lǐng)域中，有三種公認(rèn)的物理方法可進(jìn)行硬度測(cè)試：靜態(tài)的 UCI （超聲波接觸阻抗）法，動(dòng)態(tài)的回彈硬度測(cè)試法，還有光學(xué)的 TIV（壓痕觀察）法。可根據(jù)實(shí)際測(cè)試問(wèn)題選擇合適的測(cè)量方法。GE的硬度計(jì)產(chǎn)品主要有：DynaPOCKET、DynaMIC、TIV、MIC 10、MIC 20等。

　　6.光學(xué)系統(tǒng)

　　計(jì)量學(xué)是采用各種精密儀器設(shè)備獲取物理測(cè)量值，并對(duì)目標(biāo)進(jìn)行分析。GE檢測(cè)科技以這一LightScan系統(tǒng) – 非接觸式葉片測(cè)量系統(tǒng) – 為新型非接觸式測(cè)量的計(jì)量學(xué)設(shè)定了步調(diào)